壓敏電阻器的失效模式_常見壓敏電阻器的失效情況
壓敏電阻器是我們經常使用到的電子元器件之一，可以保護電路中的因電流過大而產生的問題。如果過電壓在電路中頻繁出現，也會導致壓敏電阻器頻繁動作以抑制過電壓幅值和吸收釋放浪涌能量，這樣的頻繁操作的后果必然就是導致壓敏電阻器的性能下降，從而加快老化速度。老化之后壓敏電阻器容易進入失效模式，常見壓敏電阻器的失效模式有幾種呢，本文總結了一些關于壓敏電阻器常見失效情況。
在壓敏電阻器的應用過程中，當其出現性能劣化時，常見的劣化模式有兩種，一種是開路模式，另外一種是短路模式。開路模式主要發(fā)生在MOV流過遠遠超出自身承受的浪涌電流時，通常表現為氧化鋅壓敏電阻本體炸裂，但這種模式不會引起燃燒現象。短路模式大體上可分為老化失效和暫態(tài)過電壓破壞兩種類型。
首先我們來看氧化鋅壓敏電阻的老化失效問題。這一問題主要指的是電阻體的低阻線性逐步加劇，此時漏電流將會惡性增加且集中注入薄弱點，導致薄弱點材料融化，形成一千歐左右的短路孔后，電源繼續(xù)推動一個較大的電流灌入短路點，形成高熱而起火。研究結果表明，若壓敏電阻存在著制造缺陷，易發(fā)生早期失效，強度不大的電沖擊的多次作用也會加速老化過程，使老化失效提早出現。而壓敏電阻器出現暫態(tài)過電壓破壞則是一個短時間內造成器件損壞的情況，所謂的暫態(tài)過電壓破壞，指的是短時間內出現較強的暫態(tài)過電壓使電阻體穿孔，導致更大的電流而高熱起火，整個過程在較短時間內發(fā)生。
按照壓敏電阻器失效后的表現情況來看，可以分成三種常見的失效狀態(tài)，即劣化、炸裂和穿孔。當表現為劣化狀態(tài)時，實物表現為使用萬用表測試壓敏電阻時出現漏電流增大情況，壓敏電壓顯著下降，直至為零。當表現為炸裂情況時，則壓敏電阻器在抑制過電壓時將會發(fā)生陶瓷炸裂現象，非常明顯。當氧化鋅壓敏電阻器表現為穿孔情況時，則電阻器的陶瓷外層將會瞬間發(fā)生電擊穿，出現穿孔狀態(tài)。
壓敏電阻器出現失效模式之后，工程要及時的更換掉，避免影響電路中的其他電子元器件。電容器的老化是很常見的一個問題，只要我們定期進行檢查，以上所說的問題我們是可以繞開的。采購壓敏電阻器，一定要選擇一些有質量保證的廠家，質量也是決定電容器壽命的原因之一。穎特新電子專業(yè)制造壓敏電阻器，為你電源保駕護航。以上資訊來自東莞市穎特新電子有限公司研發(fā)部提供。
編輯：admin 最后修改時間：2018-02-26
