為什么絕緣電阻檢測和Y電容有關(guān)
絕緣電阻測試的原理
一、 絕緣電阻測試原理；絕緣電阻測試是指在被測樣品加以一直流電壓U，通過檢測加壓后所產(chǎn)生的電流I，再由Ｒ＝Ｕ/Ｉ，得到絕緣電阻。其原理如下圖
上圖的Ｉ有三部分電流構(gòu)成，即泄漏電流、電容電流、吸收電流如下圖
泄漏電流I1：這部分電流時由于介質(zhì)本身電導(dǎo)引起的，其電流值是恒定不變的； 電容電流
I2：這部分電流是由于介質(zhì)的電容效應(yīng)產(chǎn)生的， 當(dāng)對被測樣品加壓時，介質(zhì)內(nèi)部發(fā)生快速極化，相當(dāng)于對電容充電產(chǎn)生的電流；其是瞬時存在的，衰減速度快吸收電流
I3：這部分電流是由于介質(zhì)內(nèi)部發(fā)生緩慢極化所 產(chǎn)生的電流；其隨著時間的推移而衰減。
圖2是介質(zhì)絕緣電阻等值電路圖，圖中I為實測電流，有圖可得出，絕緣電阻R在開始是隨時間衰減，當(dāng)達(dá)I3=0及介質(zhì)內(nèi)部極化反應(yīng)結(jié)束時，絕緣電阻趨于平衡，即此時的電阻為介質(zhì)的泄漏電阻。由此可以看出，對于正在運行的設(shè)備來說，I2、I3在達(dá)到平衡狀態(tài)后期值為零，此時流過絕緣介質(zhì)的電流只有泄漏電流I1，由此可以看出泄漏電流的大小是決定設(shè)備絕緣水平好壞關(guān)鍵因素。R=U/I1即為我們所測的絕緣電阻。R的大小取決于設(shè)備絕緣介質(zhì)的好壞，介質(zhì)老化、受潮、灰塵、裂縫等因素決定了泄漏電流I1的大小，即絕緣電阻的大小,其先隨時間的推移而逐步增大，只到達(dá)到一固定值。 二、 吸收比與極化指數(shù) 1、吸收比：為60S絕緣電阻（R60）與15S絕緣電阻（R15）的比值，中小型變壓器的吸收現(xiàn)象要弱些，根據(jù)吸收比的變化可以判斷絕緣的狀況，吸收比K= R60/ R15。由于其是絕緣介質(zhì)的電容效用引起的阻值變化，由電容值計算公式： C=（εS）/(4kπd) 其中：ε為介電常數(shù)，S為電容器板面積，K為常數(shù)，D為兩板距離 可得：介電常數(shù)ε越大，電容值就越大，而介電常數(shù)的大小與介質(zhì)的絕緣性能有關(guān)，絕緣性能越好介電常數(shù)越大。
為什么說為什么絕緣電阻檢測和Y電容有關(guān)呢？是因為Y電容和外殼有連接，檢測絕緣電阻儀器會輸出交流電壓去檢測，這樣Y電容就導(dǎo)通了。
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編輯：admin 最后修改時間：2023-08-08
