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總部位于班加羅爾的公司Prodigy Technovations Pvt. Ltd推出PGY-SSM-EV-Tester SD、eMMC AC/DC Electrical Validation Tester,用于UHS-I SD卡和HS400 (eMMC5.1)eMMC規(guī)范的電氣表征。這種創(chuàng)新的解決方案使驗(yàn)證工程師能夠通過(guò)點(diǎn)擊對(duì)應(yīng)不同運(yùn)行模式的按鈕對(duì)SD卡和eMMC器件進(jìn)行測(cè)試,表征數(shù)百個(gè)電氣和時(shí)序規(guī)格,節(jié)省大量驗(yàn)證時(shí)間。
PGY-SSM-EV-Tester SetupPGY-SSM-EV-Tester設(shè)置
PGY-SSM-EV-Tester讓用戶可以靈活選擇SD卡、microSD卡或eMMC器件及其運(yùn)行模式以進(jìn)行測(cè)試。PGY-SSM-EV-Tester允許用戶將這些器件設(shè)置為不同的模式,并發(fā)送讀寫(xiě)指令。PGY-SSM-EV-Tester軟件與示波器通信,通過(guò)以太網(wǎng)接口獲取時(shí)鐘、命令、頻閃和數(shù)據(jù)信號(hào)。軟件對(duì)示波器采集到的SD卡和eMMC器件交流和直流特性數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。
PGY-SSM-EV-Tester對(duì)SD卡和eMMC器件進(jìn)行數(shù)百次測(cè)量,并檢查標(biāo)準(zhǔn)文件中規(guī)定的限值。PGY-SSM-EV-Tester讓測(cè)試工程師能夠編寫(xiě)不同的測(cè)試用例。此款測(cè)試工具可靈活地改變時(shí)鐘和命令信號(hào)之間的時(shí)間延遲,并驗(yàn)證邊界規(guī)格。
PGY-SSM-EV-Tester軟件
PGY-SSM-EV-Tester SD和eMMC AC/DC電氣測(cè)量解決方案主要特性
支持eMMC4.41、4.51、5.0、5.1和SD卡2.0/3.0(UHS-I)規(guī)格
支持eMMC和SD卡主機(jī)控制器,可靈活設(shè)置器件的運(yùn)行模式
具備練習(xí)器功能,可編寫(xiě)不同測(cè)試用例并將流量注入到器件
控制eMMC和SD卡主機(jī)控制器和示波器信號(hào)采集以實(shí)現(xiàn)無(wú)縫測(cè)量分析
提供所有交流/直流測(cè)量并生成詳細(xì)報(bào)告
如需有關(guān)產(chǎn)品信息,請(qǐng)?jiān)L問(wèn)https://prodigytechno.com/device/sd-emmc-ac-dc-tester/?
定價(jià)及供貨情況:
PGY-SSM-EV-Tester現(xiàn)可訂購(gòu)。如需了解評(píng)估和定價(jià)信息,請(qǐng)發(fā)送電子郵件至contact@prodigytechno.com
關(guān)于Prodigy Technovations
Prodigy Technovations Pvt Ltd是PCIe、UFS4、eMMC、SD、SDIO、UHS II、I3C、RFFE、SPMI等主流及新興技術(shù)創(chuàng)新協(xié)議分析與練習(xí)器解決方案的領(lǐng)先提供商。我們還提供測(cè)試和測(cè)量設(shè)備的協(xié)議解碼和物理層測(cè)試解決方案。公司正在進(jìn)行的項(xiàng)目包括運(yùn)用最新硬件技術(shù)成功實(shí)施創(chuàng)新且全面的協(xié)議分析解決方案。
GY-SSM-EV-Tester Software稿源:美通社
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